顯微分光光度計采用了光柵和光線感應(yīng)器，可進行高速可重復(fù)的測量。 可測量多數(shù)分光光度計無法測量的曲面和平面微小的點。

奧林巴斯近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W

從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定

奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的反射率，因此十分適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。

n使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。

=測定反射率

測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率。

=測定膜厚

活用反射率數(shù)據(jù)，測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。

=測定物體顏色

根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關(guān)數(shù)值。

=測定透過率 (選配)

從受臺下部透過?2mm的平行光，測定平面樣品的透過率。

=測定入射角為45度的反射率（選配）

從側(cè)面向45度面反射?2mm的平行光，測定其反射率。

n域的高精度&高速測定

=實現(xiàn)高速測定

使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現(xiàn)高速測定。

=十分適用于測定細小部件、鏡片的反射率

新設(shè)計了可以在?17~70μm的測定區(qū)域中進行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。

=測定反射率時，不需要背面防反射處理

將專用物鏡與環(huán)形照明組合，不需要進行被檢測物背面的防反射處理，就可測定Z薄0.2mm的反射率*。*使用40×物鏡時，在本公司的測定條件下進行測定。

n可選擇的膜厚測定方法

根據(jù)測定的分光反射率數(shù)據(jù)進行單層膜或多層膜的膜厚解析?？梢愿鶕?jù)用途選擇Z佳的測定方法。

=峰谷法

這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計算出膜厚的方法，對于測定單層膜是有效的。不需要復(fù)雜的設(shè)置，可以簡單地求出。

=傅里葉轉(zhuǎn)換法

這是一種根據(jù)測定的分光反射率值的周期性計算膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。難以檢測出峰值及低谷等時，可以幾乎不受噪音的影響進行解析。

=曲線調(diào)整法

這是一種通過推算測定的分光反射率值與根據(jù)某種膜構(gòu)造計算的反射率的差達到Z小的構(gòu)造計算出膜厚的方法，對于單層膜及多層膜的測定有效。還可以進行不會出現(xiàn)峰值及低谷的薄膜解析。

n多樣化應(yīng)用

=通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學(xué)元件的反射率，進行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。

·數(shù)碼相機鏡片

·投影儀鏡片

·光讀取頭鏡片

·眼鏡片

=適用于LED反射鏡、半導(dǎo)體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。

·LED包裝

·半導(dǎo)體基板

=適用于平面光學(xué)元件、彩色濾鏡、光學(xué)薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。

·液晶彩色濾鏡

·光學(xué)薄膜

=適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產(chǎn)生的反射率測定。

·棱鏡

·反射鏡

奧林巴斯近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W鏡片反射率測定儀規(guī)格：

*1 選件組件  *2 本社測定條件下的測定  *3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。

對物鏡：

*4 點徑