Zetium聚合物版X射線熒光光譜分析儀

所屬系列：ZJYQ-HYYQGJ-MalvernPanalytical
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產品描述

★MalvernPanalytical馬爾文帕納科XRF光譜儀|Zetium聚合物版X射線熒光光譜分析儀特點：
?設計功能可尋求產品一致性
?1 kW SST-R Rh 光管可為大多數應用提供高性能（可升級至 2.4、3 和 4 kW）
?堅固耐用的設計采用了有 3 個級別的實用型漂移小化技術
?用戶友好的軟件，可為入門級和用戶提供的情報
?通過統(tǒng)計過程控制軟件實現異常值檢測和過程控制 - 特別適用于實現可追溯性和鑒定
?可在 ADPOL、TOXEL 或 RoHS 校準樣品之間自由地選擇，無需額外付費。
?軟件和應用解決方案
?馬爾文帕納科的 SuperQ 軟件的較新版本采用了簡單而直觀的用戶界面、基體校正算法（例如多散射熒光）、ED 解譜集成，并通過通過隨身人員系統(tǒng) Virtual Analyst 分析精靈軟件提供信息
?ADPOL - 由馬爾文帕納科和 DSM Resolve ，用于對聚合物及塑料中的添加劑進行準確的分析（F、Na、Mg、Al、Si、P、S、Ca、Ti 和 Zn）
?TOXEL - 由馬爾文帕納科和 DSM Resolve ，用于對聚乙烯中的有毒重元素進行準確的分析（Cr、Ni、Cu、Zn、As、Br、Cd、Ba、Hg 和 Pb）
?RoHS - 由馬爾文帕納科和 DSM Resolve ，用于對聚烯烴中的 RoHS 元素進行準確的分析（Cr、Br、Cd、Hg 和 Pb）
?升級軟件包以應對各種挑戰(zhàn)
Zetium 平臺的模塊化設計允許通過使用可帶來切實利益的升級軟件包來優(yōu)化聚合物版：
?SumXcore - 可縮短分析時間，并發(fā)現樣品中的預期外元素
?微小區(qū)域分析 - 特別適用于分析無機夾雜物（催化劑、添加劑等），以執(zhí)行工藝故障排除
?速度和處理量 - 可加快樣品分析
?可靠性和正常運行時間 - 適合在惡劣的環(huán)境下使用
?靈活性 - 可適應樣品大小和類型的變化
?性能增強 - 可提供高靈敏度
MalvernPanalytical馬爾文帕納科XRF光譜儀|Zetium聚合物版X射線熒光光譜分析儀參考技術指標：

基本配置亮點	配置升級
可選擇以下一種應用程序：ADPOL TOXEL RoHS WEEE	附加應用程序可供選擇	特的參考材料可幫助對許多功能添加劑、填充劑和有毒元素（例如砷、鎘等）進行準確的元素分析
	RoHS WEEE	特的參考材料可幫助為通過符合 RoHS 規(guī)范的測試等執(zhí)行準確的元素分析
SST R 1 kW X 射線光管		顯著提升正常運行時間，并盡量減少監(jiān)測校正工作
	3 或 4 kW X 射線光管	在同樣的測量時間內可更快地獲得結果并降低探測限制
	彎曲晶體尋求更快地獲得結果	在同樣的測量時間內多可提高 30% 的強度測量時間更短，以滿足必要的限制特別適用于分析包含磷和硫的功能添加劑
	SumXcore	更快速的分析，更高的準確性可標記預期外元素同步光譜庫建立
	微小區(qū)域分析	使用 SumXcore 進行特的成分分析，尋求分析快速、準確可對夾雜物、預期外顏色和其他樣品偽影進行快速的元素分析

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