ARL QUANTX EDXRF 光譜儀在幾分鐘內(nèi)即可獲得幾乎任何樣品的成分?jǐn)?shù)據(jù)。Thermo Scientific? ARL? QUANTX EDXRF 光譜儀提供樣品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析,包括大塊固體、顆粒、粉末、薄膜和液體。這款臺(tái)式能量色散 X 射線熒光(EDXRF)分析儀配備無標(biāo)樣軟件和配件,可滿足中心實(shí)驗(yàn)室、合同實(shí)驗(yàn)室以及環(huán)境監(jiān)測(cè)、化工、采礦、法醫(yī)、食品、電子、水泥以及金屬行業(yè)的元素分析需求。ARL QUANTX 臺(tái)式能量色散 X 射線熒光(EDXRF)光譜儀描述:ARL Q
手持式XRF光譜儀X-MET8000系列簡(jiǎn)介:X-MET8000系列手持式X射線熒光(HHXRF)分析儀具備進(jìn)行快速合金牌號(hào)識(shí)別并對(duì)各種材料(固體和金屬粉末、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等)進(jìn)行化學(xué)分析的性能。X-MET手持式XRF分析儀實(shí)用且堅(jiān)固,易于使用,可提供值得信任的結(jié)果。上海鑄金可提供一系列型號(hào)的手持XRF光譜儀,以滿足不同應(yīng)用的分析需求和預(yù)算。我們的手持式XRF光譜儀系列提供可選購的保修和新服務(wù)以及校準(zhǔn)計(jì)劃。手持式XRF光譜儀X-MET8000系列特點(diǎn):卓Y性能X-MET提供良好的輕元
X 射線熒光光譜 (XRF) 能夠?qū)Χ喾N材料進(jìn)行元素分析,包括固體、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專為滿足要求嚴(yán)苛的流程控制和研發(fā)應(yīng)用需求而設(shè)計(jì),其高品質(zhì)的設(shè)計(jì)和功能,可對(duì)從鈹?shù)斤训榷喾N元素進(jìn)行精度范圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。Zetium 包含了 SumXcore 技術(shù),它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 這種功能組合使 Zetium 在多種環(huán)境下?lián)碛懈叻治瞿芰?、速度和任?wù)靈活性。 Zetium 配備了馬爾文帕納科新版本的 SuperQ 軟件(包括 Virtual Analys
奧林巴斯手持式XRF光譜儀Vanta系列簡(jiǎn)介:Vanta分析儀是我們提供的高性能手持式X射線熒光(XRF)設(shè)備,可以滿足用戶在野外環(huán)境獲得實(shí)驗(yàn)室水平分析結(jié)果的要求。 它可以進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的元素分析和合金辨別,實(shí)現(xiàn)高通量的XRF檢測(cè)。奧林巴斯Vanta系列手持式光譜儀的構(gòu)造堅(jiān)固。其機(jī)身設(shè)計(jì)結(jié)實(shí)耐用,可在具有挑戰(zhàn)性的工業(yè)環(huán)境中避免受到損傷,因而可以正常工作更長(zhǎng)時(shí)間,并降低用戶的擁有成本。Vanta XRF系列分析儀的用戶界面簡(jiǎn)單直觀,軟件可自行定制,您只需接受基礎(chǔ)培訓(xùn),即可輕松使用分析儀,獲得高通量,并迅速獲
進(jìn)口WDXRF分析儀|ARL OPTIMX波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀簡(jiǎn)介:滿足苛刻的材料分析要求,可進(jìn)行所有導(dǎo)電和非導(dǎo)電未知樣品的定性和定量表征。Thermo Scientific? ARL? OPTIMX WDXRF 光譜儀擁有波長(zhǎng)色散 X 射線熒光 (WDXRF) 的所有優(yōu)勢(shì)。波長(zhǎng)色散 X 射線熒光是固體和液體的元素分析方法中功能z*齊全的一種方法。本系統(tǒng)針對(duì)石油、水泥和爐渣行業(yè)或者分析實(shí)驗(yàn)室多用途分析需求提供四種預(yù)配置套件。ARL OPTIMX WDXRF 光譜儀可以對(duì)多種樣品中的元素進(jìn)行分析,涵蓋從
XRF-XRD結(jié)合型光譜儀ARL 9900簡(jiǎn)介:集成 XRD 功能的 Thermo Scientific ARL 9900 XRF 系列是一款高效的多功能 X 射線分析系統(tǒng),兼具 XRF 和 XRD 技術(shù),用于過程控制。ARL 9900 能夠滿足金屬工業(yè)J*高的化學(xué)分析精確度與可靠性需求、水泥工業(yè)過程相關(guān)的J*高分析需求,以及銅業(yè)和礦業(yè)的J*高質(zhì)量控制需求。 ARL 9900 系列繼承了久經(jīng)考驗(yàn)、非常成功的 Thermo ARL 9800 系列的眾多優(yōu)勢(shì)?!袢娴捻樞蚴健⒀苌涔δ芗稍谕慌_(tái)多通道儀器中●
緊湊的全反射X射線熒光光譜儀,用于超痕量元素定性定量分析檢出低限--<ppb,可對(duì)ng-μg量級(jí)的很少量樣品進(jìn)行分析環(huán)保--無需氣體等其他耗材,無需冷卻介質(zhì),使用成本遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于 ICPCl, As, Se-同時(shí)進(jìn)行多元素進(jìn)行定性定量分析,能夠輕松對(duì)形成揮發(fā)性化合物的元素進(jìn)行快速定量S2 PICOFOX 是一種移動(dòng)式(可現(xiàn)場(chǎng)流動(dòng)測(cè)樣)全反射X射線熒光光譜儀,用于超微量元素分析。該備在使用中無需消耗氣體,無需冷卻介質(zhì),該分析儀不僅可用于實(shí)驗(yàn)室,還可用于現(xiàn)場(chǎng)分析。同時(shí)進(jìn)行多元素定量分析,包括鹵化物測(cè)試所需樣
多道WDXRF光譜儀,適合水泥、礦產(chǎn)、采礦和金屬行業(yè)的過程和質(zhì)量控制的快速分析。S8 LION多道波長(zhǎng)色散X射線熒光(WDXRF)光譜儀,可在快的時(shí)間內(nèi),為水泥、礦產(chǎn)、采礦和金屬行業(yè)的過程和質(zhì)量控制提供元素分析結(jié)果。S8 LION基于多道技術(shù),最多分析26個(gè)元素,可在短的測(cè)量時(shí)間內(nèi)獲得非常精Q的分析結(jié)果。在水泥行業(yè),S8 LION還可測(cè)量原材料、中間產(chǎn)品和最終產(chǎn)品中的游離氧化鈣含量。根據(jù)這些分析結(jié)果,可節(jié)省能源成本,減少CO2排放。為了獲得佳的分析靈活性,Multielement ChannelTM多元素
第二代S8 TIGER波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀(WDXRF),憑借其HighSense技術(shù)可精準(zhǔn)分析從鈹?shù)解櫟乃性兀瑥V泛用于工業(yè)領(lǐng)域的質(zhì)量控制和過程控制。人體工程學(xué)設(shè)計(jì)及失效保護(hù)操作,可從根本上確保工作效率;采用EasyLoad進(jìn)樣器以獲得分析數(shù)據(jù);SampleCare樣品保護(hù)技術(shù)可起到保護(hù)儀器的作用。支持多種語言的觸屏控制界面,使樣品分析變的簡(jiǎn)單、直觀。第二代S8 TIGER采用了HighSense?技術(shù)。它優(yōu)良的線性動(dòng)態(tài)范圍,可實(shí)現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行超高精度的過程控制和
S6 JAGUAR波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀(WDXRF)將優(yōu)良的分析性能和即插即用的便利性,整合在緊湊的尺寸下。由于采用了緊湊型WDXRF測(cè)角儀、緊湊耦合光路和400 W的直接激發(fā)功率,它具有更高的分析效率。依托線性范圍超過2Mcps的HighSense? XE探測(cè)器,它可確保工業(yè)實(shí)驗(yàn)室的質(zhì)量控制擁有超凡的準(zhǔn)確性和精密度。布魯克WDXRF_S6 JAGUAR波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀特點(diǎn):400 W HighSense功率400 W的HighSense?功率,帶來更大的樣品處理量,更高的分析精度,以及更
X射線熒光(XRF)技術(shù)是當(dāng)今主要的分析測(cè)試技術(shù)之一,具有元素范圍廣(B-U)、動(dòng)態(tài)范圍寬(ppm-100%)、檢出下限低、精度高、速度快、自動(dòng)化、無損測(cè)試、制樣簡(jiǎn)單、多元素同時(shí)測(cè)定等諸多優(yōu)點(diǎn),與ICP-AES、ICP-MS并稱無機(jī)多元素測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域的三大支柱。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀CNX-808儀器特點(diǎn):高穩(wěn)定高精度X射線源:4kW大功率高壓發(fā)生器,保證更低的檢測(cè)下限和更快的分析速度;優(yōu)化的功率自動(dòng)調(diào)節(jié)程序,能夠快速調(diào)整功率,監(jiān)控X射線管狀態(tài),提高使用壽命;一體化冷卻水機(jī),提供對(duì)X射線管更可靠的保護(hù)。
——廣泛應(yīng)用的X射線熒光分析儀和XUL系列一樣,F(xiàn)ISCHERSCOPE®X射線XAN®儀器非常適合分析簡(jiǎn)單形狀的樣品。然而,XAN系列的一大優(yōu)勢(shì)在于其高質(zhì)量的半導(dǎo)體探測(cè)器。X射線熒光不僅可以測(cè)量鍍層的厚度,還可以分析合金(例如銅)的成分。XAN系列總共包括5款臺(tái)式XRF光譜儀,涵蓋廣泛的應(yīng)用范圍。XAN215具有經(jīng)濟(jì)高效的PIN檢測(cè)器。非常適合簡(jiǎn)單的鍍層厚度任務(wù),例如鐵上的鋅層或Au/Ni/Cu。對(duì)于更復(fù)雜的合金或貴金屬應(yīng)用,我們建議使用帶有硅漂移檢測(cè)器SDD的設(shè)備(例如