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Orion NanoFab 擁有納米加工和成像引擎 - 配有集成軟、硬件的控制系統(tǒng)。納米圖形發(fā)生器（NPVE）為每個(gè) NanoFab 鏡筒提供了一臺(tái) 16 位掃描圖形發(fā)生器，以及支持實(shí)時(shí)圖案加工和成像的雙信號(hào)采集硬件。通過(guò)圖形化用戶界面（GUI）完全控制離子束：可創(chuàng)建一系列可編輯的形狀，如矩形、梯形、多邊線、直線、折線、橢圓及點(diǎn)。然后，對(duì)這些形狀進(jìn)行矢量切割，并通過(guò)劑量和加工參數(shù)的調(diào)節(jié)進(jìn)行完全的過(guò)程控制。離子束顯微鏡ORION NanoFab特點(diǎn)：快速亞 10 nm 結(jié)構(gòu)加工使用氖和氦離子束加工有高精度要
顯微分光光度計(jì)采用了光柵和光線感應(yīng)器，可進(jìn)行高速可重復(fù)的測(cè)量。 可測(cè)量多數(shù)分光光度計(jì)無(wú)法測(cè)量的曲面和平面微小的點(diǎn)。奧林巴斯近紅外顯微分光測(cè)定儀USPM-RU-W從380nm~1050nm的可視光至近紅外實(shí)現(xiàn)大范圍波長(zhǎng)區(qū)域中的分光測(cè)定奧林巴斯的近紅外顯微分光測(cè)定儀USPM-RU-W可以高速&高精細(xì)地進(jìn)行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長(zhǎng)的分光測(cè)定。由于其可以很容易地測(cè)定通常的分光光度計(jì)所不能測(cè)定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率，因此十分適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。n使用一臺(tái)即可進(jìn)行反射率、膜厚、物
LUMOS II 是一款獨(dú)立的傅立葉變換紅外顯微鏡，可用于失效分析、材料研究和顆粒分析等方面。它采用FPA技術(shù)，結(jié)構(gòu)緊湊、精確，具有超快的化學(xué)成像功能。傅立葉變換紅外顯微鏡LUMOS II技術(shù)特點(diǎn)：?標(biāo)準(zhǔn)TE-MCT探測(cè)器?即插即用：無(wú)需液氮，無(wú)需吹掃?可選的焦平面陣列（FPA）成像探測(cè)器?新校準(zhǔn)技術(shù) PermaSure+?全電動(dòng)化和自動(dòng)化硬件?允許最大樣品厚度達(dá)40毫米?包括激光在內(nèi)的元件壽命長(zhǎng)?抗高濕度（ZnSe光學(xué)元件）?獨(dú)立設(shè)計(jì)，占地面積小?低功耗傅立葉變換紅外顯微鏡LUMOS II提供：◎軟件引
