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　　AEROTRAC II能應(yīng)用于不同的領(lǐng)域，包括來自噴嘴的液滴、霧化器、殺蟲劑、護膚液、加濕器、噴霧分離器、粉體涂料和不同的粉體。AEROTRAC II光學(xué)系統(tǒng)的是具有非常寬的測量空間，并且提供多種類型的測量，提供不同的附件以適合不同客戶的應(yīng)用。提供不同類型噴霧器的固定夾具幾種不同夾具適合不同尺寸和形狀的噴霧器，這力求了任何時候都是在同一位置噴霧使用Tempax玻璃皿進行濕法測量通過使用Tempax玻璃皿能夠測量漿料的粒徑分布干法測量使用干法分散裝置（PD-10S）噴射粉體，能夠進行干法的粒徑分布測量噴霧粒

　　德國Colloid Metrix公司是一家研發(fā)和表征交替特征的儀器公司。在膠體配方分析方面， CMX公司的STABINO，ZETA-CHECK和NANO-FLEX為用戶提供了全新的流動/Zeta電位和粒度的測量方法，同時STABINO配合NANO-FLEX還提供多種滴定功能，可以實現(xiàn)不同PH值, 不同濃度的鹽溶液以及聚電解質(zhì)的溶液體系中顆粒的大小和Zeta電位的變化以及等電點的測量。180DLS的測量原理：激光通過光纖和藍(lán)寶石窗口聚集在樣品上。窗口會反射部分入散光。激光的反射光和散射光在檢測器上被測量。信

　　納米粒度測量——動態(tài)光背散射技術(shù)Zeta電位測量：Microtrac以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究，推出的NANOTRAC WAVE II采用微電場分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿，一次進樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，NANOTRAC WAVE II采用的“Y”型光纖探針光路設(shè)計，配置膜電產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需準(zhǔn)確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加

　　NANOTRAC FLEX —— 真正的180 動態(tài)光背散射測量技術(shù)NANOTRAC FLEX的探頭設(shè)計可以實現(xiàn)只需要一滴液體滴在探頭的頂部進行測量，這樣測量只需小的樣品量2μl。探頭同時也適合1.5mL Eppendorf 管。對于NANOTRAC FLEX 來說，每個容器都可以用作測量池，不需要任何的比色皿。NANOTRAC FLEX 的探頭設(shè)計可以實現(xiàn)在一個反應(yīng)過程中離線或在線監(jiān)測顆粒的粒徑變化。在反應(yīng)中，分散相通常處于是流動或攪拌中，分散相的運動將會掩蓋布朗運動，在這種情況下用DLS測量幾乎不可能

　　Microtrac的BLUEWAVE通過利用專門針對球形顆粒的Mie補償理論和專門針對非球形顆粒的Modified Mie計算的原理，為各種應(yīng)用提供準(zhǔn)確、可靠和可重復(fù)的粒度分析。BLUEWAVE針對低于1微米的材料進行了優(yōu)化測量。BLUEWAVE測量的粒徑范圍為0.01至2800微米。ISO 13320-1粒度分析–光衍射法|Microtrac激光衍射分析儀|BLUEWAVE粒徑分析儀性能指標(biāo)：三激光，藍(lán)/紅，多探測器，多角度光學(xué)系統(tǒng)真藍(lán)光激光器（非LED）分別針對球形和非球形材料利用Mie理論補償和修正

　　激光粒度分析儀S3500系列性能指標(biāo)：三激光，紅色，多探測器，多角度光學(xué)系統(tǒng)對非球形粒子采用米氏補償和修正米氏計算的算法測量范圍從0.02到2800m干濕法測量封閉的光路尋求光學(xué)元件的保護，很少或沒有操作員干預(yù)優(yōu)點：利用三種紅色激光器，增加了測量范圍，為您提供了對廣泛樣本進行分析的靈活性改進的Mie計算允許用戶準(zhǔn)確測量復(fù)雜的粒子從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機時間固定探測器堅固耐用，并尋求正確的定位設(shè)備占地空間小，節(jié)省實驗室的寶貴空間Microtrac S3500系列產(chǎn)品：藍(lán)波2型(BWDL))：濕法

　　▲使用激光衍射(ISO 13320:2020)和動態(tài)圖像分析(ISO 13322-2)從0.01到4000微米的粒度和形狀分析▲使用藍(lán)色激光技術(shù)具有出色的亞微米測量能力。能夠解決亞微米范圍內(nèi)的狹窄和多模態(tài)分布▲在粒徑分布中檢測少量的過大或過小的粒徑分布▲同步測量技術(shù)和混合物分布分析。一個分析產(chǎn)生了顆粒大小分布和過30個形態(tài)參數(shù)▲快速測量時間——通常為30秒▲干濕測量模塊之間的快速簡單切換。在不到15秒內(nèi)改變從濕到干模式▲完整的IQ / OQ驗證包符合FDA 21 CFR Part 11指南干濕模塊之間的切