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　　FPD/LSI檢查顯微鏡 ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N這一系列的顯微鏡是檢查硅片、顯示屏等大型樣品的較理想選擇。主要用途集中在電子通訊領(lǐng)域的零部件檢查，如硅片、液晶顯示屏等。反射熒光*可用來有效地檢查光刻膠殘留，檢查有機EL顯示屏。平板顯示器/大規(guī)模集成電路（FPD/LSI）檢查顯微鏡ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N特點：?尼康CFI60-2光學(xué)系統(tǒng)尼康的光學(xué)系統(tǒng)成像清晰，支持多種顯微鏡鏡檢。反射照明下可選擇的鏡檢方式有：明場、暗場、

　　Qeye 800可實現(xiàn)對試樣快捷、高分辨率的分析和測量。 特別適用于依據(jù)DIN EN ISO 5817對標準焊縫進行測量和檢測。測量工具，比如尺寸, 熔深，評估限值和符合標準的檢測報告都以標配的形式包含在備受推崇、用戶友好的Qpix Control2 軟件中。 集成的曲線模板模式，帶有預(yù)定義的測量元素和QATM標準目錄以及客戶定制模板的管理。Qeye節(jié)省時間，以高精度提供詳細的分析和測量。采用堅固的現(xiàn)代工業(yè)設(shè)計，易于更換的樣品載玻片。由于在潔凈室中組裝而具有對塵密性。QATM倒置顯微鏡QEYE 800技術(shù)

　　蔡司材料顯微鏡Axio Imager Vario簡介：用于檢測大尺寸樣品的蔡司正置式顯微鏡Axio Imager Vario檢查大尺寸樣品–滿足自動化潔凈室的要求從尺寸小的MEMS傳感器到大尺寸晶圓，甚至整個平板顯示器，檢測期間不會對樣品造成破壞。Axio Imager Vario支持的大樣品高度為254 mm，大橫向樣品空間為300 mm，拓展了可以測試的樣品范圍。機柱設(shè)計確保了良好的穩(wěn)定性?？蓾M足在潔凈室內(nèi)檢測晶圓的應(yīng)用要求。利用驅(qū)動Z軸的電動馬達與自動聚焦硬件確保自動調(diào)整至聚焦位置。潔凈室半導(dǎo)體生產(chǎn)

　　半導(dǎo)體與平板顯示器檢測顯微鏡MX63/MX63L簡介：奧林巴斯MX顯微鏡的設(shè)計理念是為客戶提供更高的操作效率。MX顯微鏡為用戶確保了四個等級的：快速入門、簡易操作、失敗分析和擴展功能。MX63/MX63L讓您的大尺寸樣品檢測流程更加順暢MX63和MX63L顯微鏡系統(tǒng)經(jīng)過優(yōu)化，適用于Z大尺寸300 mm的晶圓、平板顯示器、電路板以及其他大尺寸樣品的高質(zhì)量檢測。其采用的模塊化設(shè)計使您能夠選擇需要的組件，獲得根據(jù)應(yīng)用定制的系統(tǒng)。這兩款符合人體工學(xué)設(shè)計且人性化的顯微鏡有助于在提高工作效率的同時，保持檢測員的工作舒